工作原理

納米粒度測量部分使用動態光散射技術（Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動，使得光強隨時間產生脈動。采用數字相關器（digital correlator）

技術處理脈沖信號，將光強的波動轉化為相關函數。自相關函數包含了懸浮顆?；蛘呷芤褐懈叻肿拥臄U散速度信息，進而利用Stokes－Einstein方程計算得出粒子的擴散系數和粒子粒徑Rh及其分布：

ZetaPlus電位測量采用電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場作用下進行運動，電荷運動使散射光產生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術,從而可計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

• 90Plus 納米粒度分析儀

• ZetaPlus Zeta電位分析儀

• 173Plus 多角度納米粒度分析儀

• ZetaPALS 高靈敏度Zeta電位分析儀
  

1. 高靈敏性，粒度測量范圍：0.3nm～15μm；

2. 插入式電極，耐腐蝕，可重復使用；

3. 可作為在線檢測器與GPC/SEC連接，并通過DLS、光強和粒徑監測聚集過程；

4. 綜合多種粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度測量軟件；

5. 強大的數據分析功能，可自動研究粒度隨時間、溫度(蛋白熔點)以及其他參數變化的趨勢分析.  

1. 脂質體、生物膠體、醫藥

2. 陶瓷、膠乳、乳劑（食品、化妝品）

3. 顏料、油墨、炭黑

                    90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀技術指標：

*以樣品為準