動態光散射（DLS）是目前表征納米顆粒的主流方法。它通過進行布朗運動的微小顆粒對入射激光束而產生的光強隨時間變化的相關性分析，得到擴散系數D，進而通過Einstain-Stock公式得到等效流體力學直徑（dh）。 Brookhaven自八十年代初成立以來，致力推動光散射技術在納米顆粒表征領域的技術進步與應用發展，其間每個產品都代表這業界的最高技術標準。
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納米顆粒在膠體分散體系中的穩定性是一個標準納米顆粒系統很重要的內容。顆粒表面電位，可以表征與控制膠體分散體系的穩定性。測量顆粒表面電位是通過測定Zeta電位來實現的，而用電泳光散射法測定顆粒的電泳速度從而計算出Zeta電位，具有快速、統計精度高、重現性好的優點。
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高分子聚合物的分子量及其分布決定許多物理性質：隨著分布的寬度的降低，聚合物的強度和韌性增加；隨著分布的寬度的降低，聚合物變得更難處理。GPC與多角度光散射檢測器聯用可以提供關鍵信息來預測聚合物的各種性能。
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基于全新激光光阻技術（LOT）與專業圖像分析技術的EyeTech系列產品，結合尺寸、粒形和濃度數據，精確完成從納米到微米的顆粒表征。EyeTech卓越的靈活性可為顆粒測量提供多種選擇。
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BI-DCP/BI-XDC基于經典的離心/沉降原理（Stocks公式），通過高精度的數字控制，是迄今為止具有統計意義的粒度儀中分辨率、準確率最高的測量儀器。廣泛應用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制方面。
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ViewSizer 3000系列產品對傳統NTA/PTA方法進行了全面升級和革新，創造性的引入了多光譜測量技術，同時使用了三只不同波長、功率可控激光器，完美的解決了其他納米顆粒分析技術存在的局限性，可以提供準確、真實的顆粒濃度、粒度及其分布測量
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